Estudos de defeitos em silício (1990)
Source: Anais. Conference titles: Micromat 90 - Simpósio Brasileiro de Microscopia Eletrônica e Técnicas Associadas Na Pesquisa e Materiais. Unidade: IF
Subjects: CITOLOGIA, BIOLOGIA CELULAR
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ABNT
TEIXEIRA, C V e CONFORTO, E e STOJANOFF, Vivian. Estudos de defeitos em silício. 1990, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletrônica, 1990. . Acesso em: 17 maio 2024.APA
Teixeira, C. V., Conforto, E., & Stojanoff, V. (1990). Estudos de defeitos em silício. In Anais. São Paulo: Sociedade Brasileira de Microscopia Eletrônica.NLM
Teixeira CV, Conforto E, Stojanoff V. Estudos de defeitos em silício. Anais. 1990 ;[citado 2024 maio 17 ]Vancouver
Teixeira CV, Conforto E, Stojanoff V. Estudos de defeitos em silício. Anais. 1990 ;[citado 2024 maio 17 ]
